SUNTEST CPS+老化箱

SUNTEST CPS+被用于檢測(cè)材料因日光、溫度和水分而引起的短時(shí)間內(nèi)的特性改變。產(chǎn)品在室外或室內(nèi)幾個(gè)月或幾年發(fā)生的變化，如褪色、黃變或脆化，通常可以用SUNTEST測(cè)試儀器在幾周內(nèi)進(jìn)行模擬。

優(yōu)點(diǎn)：

· 依據(jù)CIE85高級(jí)日光輻射模擬

· 可選的窗玻璃濾鏡過濾日光等等

· 簡(jiǎn)單好用的界面，有11種語言可選

· 預(yù)設(shè)300小時(shí)測(cè)試，方便快速啟動(dòng)設(shè)置或作為模板定制測(cè)試

· 符合according to ISO 4892-1標(biāo)準(zhǔn)的黑標(biāo)溫度傳感器（BST）

· 滿足不同測(cè)試需求的自動(dòng)輻照度控制

配件：

· 方便在濕度條件下進(jìn)行測(cè)試的SunFlood浸泡裝置

· SunCool冷卻裝置，用于低溫環(huán)境下的測(cè)試（如化妝品）

特點(diǎn)-

· 臺(tái)式設(shè)計(jì)尺寸90 x 35 x 35 cm

· 28 x 20 cm (560 cm2) 暴露面積

· 1根風(fēng)冷1500瓦氙燈燈管

· 微處理器控制，配編程鍵盤和黑白顯示面板

· 直接設(shè)定并控制輻照強(qiáng)度（300-400 納米或300-800 納米）

· 直接設(shè)定并控制黑標(biāo)溫度 （BST）

· 顯示試驗(yàn)箱體溫度（CHT）

· 顯示測(cè)試值和診斷信息

· 參數(shù)檢查

· 兩種預(yù)編程的測(cè)試方法加六種用戶定義測(cè)試

· 多語言支持：英語、德語、意大利語、法語、西班牙語、波蘭語、俄語、漢語

· 水平測(cè)試區(qū)域大達(dá)560 cm2，用于平板樣品或3D樣品

· 依據(jù)CIE85的高級(jí)日光模擬

· 輻照控制范圍30-65 W/m2 (300-400 納米); 250-765 W/m2 (300-800 納米)

· BST范圍35-100 °C（不使用SunCool）

· 長效的涂層石英過濾系統(tǒng)和選擇性反射鏡

· 閱讀了解更多光學(xué)濾鏡

· “結(jié)束試驗(yàn)?zāi)Ｊ?rdquo;：曝曬量或測(cè)試時(shí)間

· 通過串聯(lián)接口RS 232輸出數(shù)據(jù)

· 選項(xiàng)-

· 光能監(jiān)測(cè)點(diǎn) 300-400 納米

· 光能監(jiān)測(cè)點(diǎn) 300-800 納米

· 測(cè)試期間測(cè)量相對(duì)濕度的濕度傳感器

· 配件-

· 日燈濾鏡

· 窗玻璃濾鏡

· 日光ID 65濾鏡

· 商店燈光濾鏡

· SunCool冷卻系統(tǒng)，用于低溫環(huán)境下的測(cè)試

· SunFlood：40升溫度可控樣品浸泡系統(tǒng)，用于測(cè)試材料的耐候性，如油漆、塑料或建材

· SunTray：SunTray樣品替換裝置，包括8個(gè)PMMA樣品盤

· 為熱敏性樣品曝曬設(shè)計(jì)的水冷樣品臺(tái)

· ICH-D10/20/30粉末樣品架，用于1-3 毫米的粉末樣品（藥物）的制備

· SunCal BB 300-400 BST傳感器，用于波長范圍300-400 納米的以W/m²為單位的輻照度校準(zhǔn)和以°C為單位的黑標(biāo)溫度計(jì)BST校準(zhǔn)

· SunCal WB 300-800 BST傳感器，用于波長范圍300-800 納米的以W/m²為單位的輻照度校準(zhǔn)和以°C為單位的黑標(biāo)溫度計(jì)BST校準(zhǔn)

· SunCal Lux BST校準(zhǔn)Lux-Sensor照度傳感器，用于（通過IBM兼容機(jī)進(jìn)行）照度（單位lx）和輻射曝曬量（單位lxh）的校準(zhǔn)，并帶有校準(zhǔn)BST傳感器可用于黑標(biāo)溫度（單位°C）的校準(zhǔn)

應(yīng)用-

· 添加劑和染色劑

· 化妝品

· 圖形藝術(shù)

· 包裝材料

· 藥物

· 塑料

標(biāo)準(zhǔn)-

· 列出的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范可能包含幾個(gè)備選的測(cè)試選項(xiàng)，該儀器在任何列出的標(biāo)準(zhǔn)中至少滿足一個(gè)選項(xiàng)。標(biāo)準(zhǔn)如有變更，不另行通知。 這可能導(dǎo)致測(cè)試技術(shù)的改變。經(jīng)常與負(fù)責(zé)的標(biāo)準(zhǔn)開發(fā)組織檢查標(biāo)準(zhǔn)的修訂狀態(tài)。如果不確定儀器是否符合要求，請(qǐng)與當(dāng)?shù)劁N售代表聯(lián)系。